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JTAGバウンダリスキャン・テストソリューション / IEEE1149.XGOEPEL electronic



JTAGバウンダリスキャン・テストとは?

JTAG(Joint Test Action Group) バウンダリスキャン・テスト(IEEE1149.1)は、高密度で複雑な 電子回路(PCB/実装基板)の接続及びショートを、わずか4本ないしは5本のJTAG バスを利用し、低コストでテストすることが出来る革新的な技術です。これまでのインサーキットテスタに代わる手法として、主に、欧米で発展してきたテスト技術です。特に、少量多品種のボードテストに最適で、冶具が必要無く、また、BGAのテストも容易に実行することができます。さらに、テストと同時に、JTAGバスを利用した、ISP(インシステムプログラミング)を実行することも可能です。

GOEPEL社は、JTAGバウンダリスキャン・テストプログラムの生成を自動化し、テストカバレッジを最大化する、JTAGバウンダリスキャン・テスト開発ツール”CASCON”やJTAGテスト用コントローラ”SCAN FLEX”の開発を通じて、JTAGテスト業界をリードしてまいりました。特に、次世代のJTAGバウンダリスキャン・テストコントローラとして開発された"SCAN FLEX"は、クロック周波数は最大80MHZで動作し、ソフトウエアで自由に利用できるデジタルI/0機能を使用可能です。これにより、これまで テストが難しかったコネクタ等の開放部分のテストも非常に簡単にでき、テストカバレッジを飛躍的に増大させることに成功しました。

JTAGバウンダリスキャン・テストは、とてもシンプルです!

JTAGバウンダリスキャン・テストを実施するには、CASCONとJTAGテスト用コントローラーが必要となります。コントローラーは被テストボード(UUT)へのハードウェア・インターフェース機能を提供します(下図参照)。GOEPELでは、お客様のテスト環境に適合させて使用できるように、PCI、USB、イーサネット、PXI及びパラレルポート用コントーラを提供します。これによりアプリケーションの内容や複雑さに応じて、最も適したコントローラーを選択可能です。また、パラレルポートに対応する 他社製バイトブラスター等のインターフェイスにも対応しております。

JTAGバウンダリスキャンコントローラ(SCANFREX)接続例:
PCとは、USBケーブルで、SCANFLEXとタップコントローラが接続され、その先にUUTが接続される構成となります。これだけの装備でJTAGテストが可能です。


GOEPEL JTAG バウンダリスキャン・テスト・コントローラーには性能の異なる、3つのタイプ(A/B/Cタイプ :Cタイプは、SCAN FLEXのみ)あります。主な性能の違いは、特許出願中のスペース・アーキテクチャー(SPACE Architecture)の有無しとなります。B/CタイプコントローラーはSPACEアーキテクチャーを装備しており、フラッシュプログラミングを高速で実行可能です。JTAGテスト(バウンダリスキャン・テスト)コントローラーは、CASCON-GALAXYパッケージ・ソフトの中で動作します。ハードウェア・ドライバーはCASCONソフトウェアで統合され、それぞれのコントローラーを単に選択することで自動的に使用可能となります。

バナースペース

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